| Fecha de lectura | 1 jul 2005 |
|---|---|
| Idioma original | Indefinido/desconocido |
| Supervisor | Montserrat Nafria Maqueda (Director/a) |
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Propiedades eléctricas a escala nanométrica de dispositivos MOS con dieléctricos de puerta basados en Hafnio
Tesis doctoral: Tesina (TFM)