| Fecha de lectura | 21 jul 2009 |
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| Idioma original | Indefinido/desconocido |
| Supervisor | Montserrat Nafria Maqueda (Director/a) |
Modelado de los efectos de la ruptura dieléctrica, BTI y variabilidad en MOSFETs Ultraescalados para la simulaciójn de circuitos. (Mención Europea)
Tesis doctoral