| Fecha de lectura | 10 abr 1992 |
|---|---|
| Idioma original | Indefinido/desconocido |
| Supervisor | Xavier Aymerich Humet (Director/a) |
Formalismes físics per a la microscòpia d'efecte túnel. Aplicació d'un STM atmosfèric en microelectrònica: Caracterització de Si i d'estructures MOS
Tesis doctoral