| Fecha de lectura | 1 jun 2007 |
|---|---|
| Idioma original | Indefinido/desconocido |
| Supervisor | Montserrat Nafria Maqueda (Director/a) |
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Efectos de la degradación del óxido de puerta en MOSFETs nanométricos. Modelado SPICE e impacto en circuitos
Tesis doctoral: Tesina (TFM)