| Fecha de lectura | 4 abr 2003 |
|---|---|
| Idioma original | Indefinido/desconocido |
| Supervisor | Xavier Aymerich Humet (Director/a) & Montserrat Nafria Maqueda (Director/a) |
Caracterització a escala nanomètrica de la degradació i ruptura dielèctrica del SiO2 en dispositius MOS mitjançant C-AFM
Tesis doctoral