| Fecha de lectura | 21 may 1993 |
|---|---|
| Idioma original | Indefinido/desconocido |
| Supervisor | Xavier Aymerich Humet (Director/a) |
Citar esto
- Standard
- Short
- Compact
Aplicació de la microscòpia d'efecte túnel a l'anàlisi i modificació nanomètrica de superfícies de Si(100)
Tesis doctoral