Ir directamente a la navegación principal Ir directamente a la búsqueda Ir directamente al contenido principal

Aplicació de la microscòpia d'efecte túnel a l'anàlisi i modificació nanomètrica de superfícies de Si(100)

    Tesis doctoral

    Fecha de lectura21 may 1993
    Idioma originalIndefinido/desconocido
    SupervisorXavier Aymerich Humet (Director/a)

    Citar esto

    '