Toy model for the progressive breakdown dynamics of ultrathin gate dielectrics

E. Miranda*, D. Jiménez, J. Suñé

*Autor correspondiente de este trabajo

Producción científica: Capítulo del libroCapítuloInvestigaciónrevisión exhaustiva

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Toy model for the progressive breakdown dynamics of ultrathin gate dielectrics'. En conjunto forman una huella única.

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