X. Blasco, D. Hill, M. Porti, M. Nafría, X. Aymerich
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › Investigación › revisión exhaustiva
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TY - JOUR
T1 - Topographic characterization of AFM grown SiO2 on Si
AU - Blasco, X.
AU - Hill, D.
AU - Porti, M.
AU - Nafría, M.
AU - Aymerich, X.
PY - 2001/1/1
Y1 - 2001/1/1
U2 - 10.1088/0957-4484/12/2/307
DO - 10.1088/0957-4484/12/2/307
M3 - Article
SN - 0957-4484
VL - 12
SP - 110
EP - 112
JO - Nanotechnology
JF - Nanotechnology
ER -