Topographic characterization of AFM grown SiO2 on Si

X. Blasco, D. Hill, M. Porti, M. Nafría, X. Aymerich

    Producción científica: Contribución a una revistaArtículoInvestigaciónrevisión exhaustiva

    27 Citas (Scopus)
    Idioma originalInglés
    Páginas (desde-hasta)110-112
    PublicaciónNanotechnology
    Volumen12
    DOI
    EstadoPublicada - 1 ene 2001

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