Ir directamente a la navegación principal Ir directamente a la búsqueda Ir directamente al contenido principal

Theoretical evidence for the kick-out mechanism for B diffusion in SiC

Riccardo Rurali, Philippe Godignon, José Andrés Rebollo Palacios, Pablo Ordejon, Eduardo R. Hernández

Producción científica: Contribución a una revistaArtículoInvestigaciónrevisión exhaustiva

28   El enlace se abre en una pestaña nueva Citas (Web of Science)

Resumen

In this letter, we analyze by means of first-principles electronic structure calculations the diffusion of B impurities in 3C-SiC. We find, through molecular dynamics, that substitutional B at a Si lattice site is readily displaced by a nearby Si interstitial by the process known as a kick-out mechanism, in agreement with recent experimental results. This is in contrast to the situation in Si, where B has recently been shown to diffuse via an interstitialcy mechanism.
Idioma originalInglés
Páginas (desde-hasta)2989-2991
Número de páginas3
PublicaciónApplied Physics Letters
Volumen81
N.º16
DOI
EstadoPublicada - 2002

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Theoretical evidence for the kick-out mechanism for B diffusion in SiC'. En conjunto forman una huella única.

Citar esto