Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Straightforward bias- and frequency-dependent small-signal model extraction for single-layer graphene FETs'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
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Straightforward bias- and frequency-dependent small-signal model extraction for single-layer graphene FETs
Nikolaos Mavredakis*, Anibal Pacheco-Sanchez, Wei Wei, Emiliano Pallecchi, Henri Happy, David Jiménez
*Autor correspondiente de este trabajo
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › Investigación › revisión exhaustiva
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