Statistics of Successive Breakdown Events in Gate Oxides

J. Suñé, E. Wu

    Producción científica: Contribución a una revistaArtículoInvestigación

    68 Citas (Scopus)
    Idioma originalInglés
    Páginas (desde-hasta)272-274
    PublicaciónIEEE Electron Device Letters
    Volumen24
    DOI
    EstadoPublicada - 1 ene 2003

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