Single-equation model for low and high voltage soft breakdown conduction

E. Miranda, E. Mallaina

Producción científica: Contribución a una revistaArtículoInvestigación

4 Citas (Scopus)
Idioma originalInglés
Páginas (desde-hasta)163-166
PublicaciónMicroelectronics and Reliability
Volumen44
EstadoPublicada - 1 ene 2004

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