Idioma original | Inglés |
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Páginas (desde-hasta) | 163-166 |
Publicación | Microelectronics and Reliability |
Volumen | 44 |
Estado | Publicada - 1 ene 2004 |
Single-equation model for low and high voltage soft breakdown conduction
E. Miranda, E. Mallaina
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › Investigación
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