Modeling of nanoscale cylindrical Gate-All-Around MOSFETs

D. Jiménez, J.J. Sáenz, B. Iñíguez, J. Suñé, L.F. Marsal, J. Pallarés

Producción científica: Contribución a una revistaArtículoInvestigación

144 Citas (Scopus)
Idioma originalInglés
Páginas (desde-hasta)314-316
PublicaciónIEEE Electron Device Letters
Volumen25
EstadoPublicada - 1 ene 2004

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