Metric learning for novelty and anomaly detection

M. Masana, I. Ruiz, J. Serrat, J. Van De Weijer, A.M. Lopez

Producción científica: Contribución a una revistaArtículoInvestigaciónrevisión exhaustiva

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Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Metric learning for novelty and anomaly detection'. En conjunto forman una huella única.

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