Measurement of thresold voltages of thin film accumulation mode PMOS/SOI

A. Terao, D. Flandre, LORA TAMAYO E., F. Van de Wiele

Producción científica: Contribución a una revistaArtículoInvestigación

85 Citas (Scopus)
Idioma originalInglés
Páginas (desde-hasta)682-684
PublicaciónIEEE Electron Device Letters
Volumen12
N.º12
DOI
EstadoPublicada - 1 ene 1991

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