Low-frequency noise parameter extraction method for single-layer graphene FETs

Nikolaos Mavredakis, Wei Wei, Emiliano Pallecchi, Dominique Vignaud, Henri Happy, Ramon Garcia Cortadella, Nathan Schaefer, Andrea Bonaccini Calia, Jose Garrido, David Jiménez Jiménez

Producción científica: Contribución a una revistaArtículoInvestigaciónrevisión exhaustiva

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