Local current fluctuations before and after breakdown of thin SiO<inf>2</inf> films observed with conductive atomic force microscope

M. Porti, X. Blasco, M. Nafría, X. Aymerich, A. Olbrich, B. Ebersberger

    Producción científica: Contribución a una revistaArtículoInvestigaciónrevisión exhaustiva

    3 Citas (Scopus)

    Huella

    Profundice en los temas de investigación de 'Local current fluctuations before and after breakdown of thin SiO<inf>2</inf> films observed with conductive atomic force microscope'. En conjunto forman una huella única.

    Material Science