Gate dielectric degradation in CMOS inverters

J. Martín-Martínez, S. Gerardin, R. Rodríguez, M. Nafría, X. Aymerich, A. Paccagnella, G. Ghidini

Producción científica: Contribución a una revistaArtículoInvestigaciónrevisión exhaustiva

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Gate dielectric degradation in CMOS inverters'. En conjunto forman una huella única.

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