From post-breakdown conduction to resistive switching effect in thin dielectric films

E. Miranda*, D. Jiménez, J. Suñé

*Autor correspondiente de este trabajo

Producción científica: Contribución a una revistaArtículoInvestigaciónrevisión exhaustiva

4 Citas (Scopus)

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'From post-breakdown conduction to resistive switching effect in thin dielectric films'. En conjunto forman una huella única.

Keyphrases

Earth and Planetary Sciences

Material Science

Physics

Mathematics

Neuroscience