Experimental Observation and Modeling of the Impact of Traps on Static and Analog/HF Performance of Graphene Transistors
Anibal Pacheco-Sanchez, Nikolaos Mavredakis, Pedro C. Feijoo, Wei Wei, Emiliano Pallecchi, Henri Happy, David Jimenez
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › Investigación › revisión exhaustiva
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