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Experimental Observation and Modeling of the Impact of Traps on Static and Analog/HF Performance of Graphene Transistors

Anibal Pacheco-Sanchez, Nikolaos Mavredakis, Pedro C. Feijoo, Wei Wei, Emiliano Pallecchi, Henri Happy, David Jimenez

Producción científica: Contribución a una revistaArtículoInvestigaciónrevisión exhaustiva

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Profundice en los temas de investigación de 'Experimental Observation and Modeling of the Impact of Traps on Static and Analog/HF Performance of Graphene Transistors'. En conjunto forman una huella única.
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