Electrical resolution during Conductive AFM measurements under different environmental conditions and contact forces

M. Lanza, M. Porti, M. Nafría, X. Aymerich, E. Wittaker, B. Hamilton

Producción científica: Contribución a una revistaArtículoInvestigaciónrevisión exhaustiva

44 Citas (Scopus)
Idioma originalInglés
Páginas (desde-hasta)106110-
PublicaciónReview of Scientific Instruments
Volumen81
N.º10
DOI
EstadoPublicada - 1 mar 2010

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