Dielectric BD in polycristalline HfO2 gate dielectrics investigated by CAFM',

V. Iglesias, M. Porti, M. Nafria, X. Aymerich, P. Dudek, G. Bersuker

Producción científica: Contribución a una revistaArtículoInvestigaciónrevisión exhaustiva

Idioma originalInglés
Páginas (desde-hasta)-
PublicaciónJournal of Vacuum Science & Technology B
Volumen29
N.º01AB02
EstadoPublicada - 1 ene 2011

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