Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante SNOM".: Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines.

X. Borrisé; N. Barniol; F. Pérez-Murano; D Jiménez; X. Ayerich; F. Pérez-Murano; G. Abadal

Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante SNOM". Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines.

X. Borrisé, N. Barniol, F. Pérez-Murano, D Jiménez, X. Ayerich, F. Pérez-Murano (Editor/a), G. Abadal (Editor/a)

Producción científica: Informe/libro › Libro de Actas › Investigación

Idioma original	Indefinido/desconocido
Lugar de publicación	Barcelona (ES)
Número de páginas	4
Estado	Publicada - jun 1998

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Borrisé, X., Barniol, N., Pérez-Murano, F., Jiménez, D., Ayerich, X., Pérez-Murano, F. (Ed.), & Abadal, G. (Ed.) (1998). Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante SNOM". Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines.

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Borrisé, X, Barniol, N, Pérez-Murano, F, Jiménez, D, Ayerich, X, Pérez-Murano, F (ed.) & Abadal, G (ed.) 1998, Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante SNOM". Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. Barcelona (ES).

Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante SNOM". Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. / Borrisé, X.; Barniol, N.; Pérez-Murano, F. et al.
Barcelona (ES), 1998. 4 p.

Producción científica: Informe/libro › Libro de Actas › Investigación

TY - BOOK

T1 - Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante SNOM".

T2 - Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines.

AU - Borrisé, X.

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A2 - Pérez-Murano, F.

A2 - Abadal, G.

PY - 1998/6

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M3 - Libro de Actas

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Borrisé X, Barniol N, Pérez-Murano F, Jiménez D, Ayerich X, Pérez-Murano F, (ed.) et al. Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante SNOM". Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. Barcelona (ES), 1998. 4 p.