Congreso Español de Microscopía de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante Microscopía óptica de campo cercano (SNOM). Congreso Español de Microscopía de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines.

X. Borrisé, D. Jiménez, N. Barniol, X. Aymerich, F. Pérez-Murano (Editor/a), G. Abadal (Editor/a)

    Producción científica: Informe/libroLibro de ActasInvestigación

    Idioma originalIndefinido/desconocido
    Lugar de publicaciónBarcelona (ES)
    Número de páginas4
    EstadoPublicada - jun 1998

    Citar esto