Idioma original | Indefinido/desconocido |
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Lugar de publicación | Barcelona (ES) |
Número de páginas | 4 |
Estado | Publicada - jun 1998 |
Congreso Español de Microscopía de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante Microscopía óptica de campo cercano (SNOM). Congreso Español de Microscopía de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines.
X. Borrisé, D. Jiménez, N. Barniol, X. Aymerich, F. Pérez-Murano (Editor/a), G. Abadal (Editor/a)
Producción científica: Informe/libro › Libro de Actas › Investigación