Characterization of HfO <inf>2</inf> -based devices with indication of second order memristor effects

A. Rodriguez-Fernandez, C. Cagli, L. Perniola, E. Miranda, J. Suñé

Producción científica: Contribución a una revistaArtículoInvestigaciónrevisión exhaustiva

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Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Characterization of HfO <inf>2</inf> -based devices with indication of second order memristor effects'. En conjunto forman una huella única.

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