Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Channel-hot-carrier degradation and bias temperature instabilities in CMOS inverters'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
- Ponderación
- Alfabéticamente
Channel-hot-carrier degradation and bias temperature instabilities in CMOS inverters
Javier Martín-Martínez, Simone Gerardin, Esteve Amat, Rosana Rodríguez, Montserrat Nafría, Xavier Aymerich, Alessandro Paccagnella, Gabriella Ghidini
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › Investigación › revisión exhaustiva
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Citas
(Scopus)