Caracterización de la rugosidad de capas delgadas de SiO₂ a partir de un modelo local de crecimiento

Jorge Francisco Suñe Tarruella; I. Placencia; Francesca Campabadal Segura; Francisco Javier Aymerich Humet

Caracterización de la rugosidad de capas delgadas de SiO₂ a partir de un modelo local de crecimiento

Jorge Francisco Suñe Tarruella, I. Placencia, Francesca Campabadal Segura, Francisco Javier Aymerich Humet

Producción científica: Capítulo de libro › Capítulo › Investigación › revisión exhaustiva

Idioma original	Español
Título de la publicación alojada	XXI Reunión bienal de la Real Sociedad española de Física: programa, Salamanca 4 al 10 de octubre, 1987
Editores	Real Sociedad Española de Física
Páginas	37-38
Número de páginas	1
Estado	Publicada - 1987

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Caracterización de la rugosidad de capas delgadas de SiO₂ a partir de un modelo local de crecimiento. / Suñe Tarruella, Jorge Francisco; Placencia, I.; Campabadal Segura, Francesca et al.
XXI Reunión bienal de la Real Sociedad española de Física: programa, Salamanca 4 al 10 de octubre, 1987. ed. / Real Sociedad Española de Física. 1987. p. 37-38.

Producción científica: Capítulo de libro › Capítulo › Investigación › revisión exhaustiva

TY - CHAP

T1 - Caracterización de la rugosidad de capas delgadas de SiO₂ a partir de un modelo local de crecimiento

AU - Suñe Tarruella, Jorge Francisco

AU - Placencia, I.

AU - Campabadal Segura, Francesca

AU - Aymerich Humet, Francisco Javier

PY - 1987

Y1 - 1987

UR - http://dialnet.unirioja.es/servlet/articulo?codigo=7551254

M3 - Capítulo

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EP - 38

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