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Caracterización de diodos Schottky Pt/GaAs mediante microscopía de efecto Túnel

F. Péres Murano, M Barniol, X. Aymerich, L. Lechuga

Producción científica: Capítulo de libroCapítuloInvestigación

Idioma originalEspañol
Título de la publicación alojadaMicrolectrónica 92: tecnologías, diseño y aplicaciones. Recogen las ponencias presentadas durante las Jornadas Cientificas de la VI edicion de la Escuela de Microelectronica
Editores editores A.M. Burón Romero, ...(, et al)
Lugar de publicaciónSantander (ES)
Páginas108-108
Edición1
EstadoPublicada - 1 abr 1993

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