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Breakdown of thin gate silicon dioxide films - A review

M. Nafría, J. Suñé, X. Aymerich

    Producción científica: Contribución a una revistaArtículoInvestigaciónrevisión exhaustiva

    Huella

    Profundice en los temas de investigación de 'Breakdown of thin gate silicon dioxide films - A review'. En conjunto forman una huella única.
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