Analysis of the successive breakdown statistics of multilayer Al₂O₃/HfO₂ gate stacks using the time-dependent clustering model

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  Fabricación, caracterización, simulación, modelado y aplicaciones de dispositivos de conmutación resistiva

  Miranda Castellano, E. A. (Principal Investigator), Morell Perez, A. (Investigador/a Principal 2), Boquet Pujadas, G. (Colaborador/a), Macias Toro, E. H. (Colaborador/a), Muñoz Gorriz, J. (Colaborador/a), Lopez Vicario, J. (Investigador/a), Serrano Garcia, J. (Investigador/a), Suñe Tarruella, J. F. (Investigador/a) & Salvador Aguilera, E. (Colaborador/a)

  Ministerio de Economía y Competitividad (MINECO)

  1/01/18 → 30/09/21

  Proyecto: Proyectos y Ayudas de Investigación

  • Memdiode 100%
  • Resistive 93%
  • SPICE Model 64%
  • SPICE 60%
  • Quasi-static 55%