Analog and digital circuit functionality under the influence of gate oxide degradation and breakdown

R. Rodríguez, R. Fernández, M. Nafría, X. Aymerich, Lucas M. Simon Noah T. Andre (Editor/a), Javier Martin Martinez

Producción científica: Capítulo del libroCapítuloInvestigación

Idioma originalInglés
Título de la publicación alojadaMOSFETs: Properties, Preparations and Performance
Lugar de publicaciónLondres (GB)
Páginas401-419
Número de páginas18
Edición1
EstadoPublicada - 1 ene 2008

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