Variabilidad y fiabilidad en dispositivos electrónicos avanzados: de la nanoescala al circuito (VARENAC)

Nafria Maqueda, Montserrat (Investigador/a principal)
Amat Bertran, Esteve (Investigador/a)
Ayala Cintas, Nuria (Investigador/a)
Aymerich Humet, Francisco Javier (Investigador/a)
Bayerl , Albin (Investigador/a)
Crespo Yepes, Albert (Investigador/a)
Iglesias Santiso, Vanessa (Investigador/a)
Lanza Martínez, Mario (Investigador/a)
Martin Martinez, Javier (Investigador/a)
Porti Pujal, Marc (Investigador/a)
Rodriguez Martinez, Rosana (Investigador/a)
Velayudhan , Vikas (Investigador/a)
Moras Albero, Miquel (Investigador/a)
Maestro Izquierdo, Marcos (Investigador/a)
Couso Fontanillo, Carlos (Investigador/a)
Diaz Fortuny, Javier (Otros)
Claramunt Ruiz, Sergi (Investigador/a)

Descripción

No disponible

Estado	Finalizado
Fecha de inicio/Fecha fin	1/01/11 → 31/12/14

Financiación

Ministerio de Ciencia e Innovación (MICINN): 255.552,00 €