THE VARIABILITY CHALLENGE IN NANO-CMOS AND BEYOND-CMOS: HARNESSING DEVICES AND MATERIALS FOR MITIGATION AND EXPLOITATION (VIGILANT-UAB)

Rodriguez Martinez, Rosana (Principal Investigator)
Nafria Maqueda, Montserrat (Investigador/a Principal 2)
Diaz Fortuny, Javier (Colaborador/a)
Pedreira Rincon, Gerard (Colaborador/a)
Pedro Puig, Marta (Colaborador/a)
Ruiz Flores, Ana (Colaborador/a)
Salvador Aguilera, Emili (Colaborador/a)
Aymerich Humet, Francisco Javier (Investigador/a)
Crespo Yepes, Albert (Investigador/a)
Martin Martinez, Javier (Investigador/a)
Porti Pujal, Marc (Investigador/a)
Valdivieso Leon, Carlos Andres (Colaborador/a)
Claramunt Ruiz, Sergi (Colaborador/a)

Departamento de Ingeniería Electrónica

Estado	Finalizado
Fecha de inicio/Fecha fin	1/06/20 → 29/02/24

Socios colaboradores

Universidad de Sevilla (principal)
Universitat Politècnica de Catalunya, Barcelona, (Responsable de Subproyecto)

3 Artículo

A Simple, Robust, and Versatile MATLAB Formulation of the Dynamic Memdiode Model for Bipolar-Type Resistive Random Access Memory Devices
Salvador Aguilera, E., Rodriguez, R. & Miranda, E., 28 may 2024, En: Journal of Low Power Electronics and Applications. 14, 2, 11 p., 30.
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › Investigación › revisión exhaustiva

Acceso abierto
1 Cita (Scopus)
Assessment of the variability of the I-V characteristic of HfO2-based resistive switching devices and its simulation using the quasi-static memdiode model
Salvador Aguilera, E., Bargallo Gonzalez, M., Campabadal, F., Martin-Martinez, J., Rodriguez, R. & Miranda, E., ago 2023, En: Solid-State Electronics. 206, 10 p., 108667.
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › Investigación › revisión exhaustiva

Acceso abierto
4 Citas (Scopus)
SPICE modeling of cycle-to-cycle variability in RRAM devices
Salvador Aguilera, E., Bargallo Gonzalez, M., Campabadal, F., Martin Martinez, J., Rodríguez Martínez, R. & Miranda, E., 2021, En: Solid-State Electronics. 185
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › Investigación › revisión exhaustiva

Acceso abierto
12 Citas (Scopus)