Optimització de la tècnica d'oxidació mitjançant microscòpia de sonda local per a la fabricació de dispositius electrònics nanomètrics

  • Pérez Murano, Francesc (Principal Investigator)
  • García García, Ricardo (Colaborador/a)
  • Borrise Nogue, Xavier (Investigador/a contratado/a)
  • Abadal Berini, Gabriel (Investigador/a)
  • Barniol Beumala, Nuria (Investigador/a)
  • Dagata, John A. (Investigador/a)

    Detalles del proyecto

    Descripción

    La oxidación de superficies mediante microscopía de sonda local (STM y AFM) es una prometedora técnica para la fabricación de dispositivos electrónicos nanométricos. Bajo el presente proyecto, se optimizará el proceso de fabricación de nanodispositivos optimizando la técnica a partir del desarrollo instrumental que permita integrar simultáneamente i) oxidación en condiciones de no contacto, ii) caracterización eléctrica "in situ" y iii) modulación de la tensión de oxidación. Como punto de partida, se ha demostrado ya la mejora de los anteriores factores aplicados independientemente ( (i) y (iii) por el grupo español, (ii) y (iii) por el grupo norteamericano) y se parte de la colaboración establecida entre ambos grupos desde 1997.
    EstadoFinalizado
    Fecha de inicio/Fecha fin7/06/996/06/00

    Socios colaboradores

    Financiación

    • Comisión de Intercambio Cultural, Educativo y Científico entre España y EEUU: 14.424,30 €

    Huella digital

    Explore los temas de investigación que se abordan en este proyecto. Estas etiquetas se generan con base en las adjudicaciones/concesiones subyacentes. Juntos, forma una huella digital única.