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Modelling and simualtion of nanoscale mosfets
Oriols Pladevall, Xavier
(Principal Investigator)
Miranda, E.
(Investigador/a contratado/a)
Fernández-Díaz Serarols, Eduard
(Investigador/a)
Jimenez Jimenez, David
(Investigador/a)
Suñe Tarruella, Jorge Francisco
(Investigador/a)
Ungersboeck, E.
(Investigador/a)
Departamento de Ingeniería Electrónica
Universitat Autònoma de Barcelona (UAB)
Vienna University of technology-Institute Public Finance & Infrastructural Policy
Información general
Huella digital
Huella digital
Explore los temas de investigación que se abordan en este proyecto. Estas etiquetas se generan con base en las adjudicaciones/concesiones subyacentes. Juntos, forma una huella digital única.
Clasificar por
Ponderación
Alfabéticamente
Keyphrases
Simualtion
100%
NWFET
100%
MOSFET
100%
Scaling Process
50%
SiGe MOSFET
50%
Double Gate
50%
Electron Transport
50%
Circuit Performance
50%
Operating Voltage
50%
Complementary MOS
50%
Compact Modeling
50%
CMOS Devices
50%
Technology Node
50%
Integrated Circuits
50%
Simulation Performance
50%
Transistor
50%
Engineering
Nanoscale
100%
Mosfets
100%
Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor
100%
Circuit Performance
33%
Operating Voltage
33%
Scaling Process
33%
Nodes
33%
Continuo
33%
Integrated Circuit
33%
Material Science
Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor
100%
Transistor
33%
Electronic Circuit
33%
Electron Transfer
33%