Fabricación, caracterización, simulación, modelado y aplicaciones de dispositivos de conmutación resistiva

Miranda Castellano, Enrique Alberto (Principal Investigator)
Morell Perez, Antoni (Investigador/a Principal 2)
Boquet Pujadas, Guillem (Colaborador/a)
Macias Toro, Edwar Hernando (Colaborador/a)
Muñoz Gorriz, Jordi (Colaborador/a)
Lopez Vicario, Jose (Investigador/a)
Serrano Garcia, Javier (Investigador/a)
Suñe Tarruella, Jorge Francisco (Investigador/a)
Salvador Aguilera, Emili (Colaborador/a)

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2022
SPICE model for complementary resistive switching devices based on anti-serially connected quasi-static memdiodes
Saludes-Tapia, M., Gonzalez, M. B., Campabadal, F., Suñé, J. & Miranda, E., 2022, En: Solid-State Electronics. 194
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Acceso abierto
2 Citas (Scopus)
2021
A simple, robust, and accurate compact model for a wide variety of complementary resistive switching devices
Saludes-Tapia, M., Bargallo Gonzalez, M., Campabadal, F., Suñé, J. & Miranda, E., 2021, En: Solid-State Electronics. 185
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Acceso abierto
4 Citas (Scopus)
Assessment and Improvement of the Pattern Recognition Performance of Memdiode-Based Cross-Point Arrays with Randomly Distributed Stuck-at-Faults
Aguirre, F. L., Pazos, S. M., Palumbo, F., Morell Pérez, A., Suñé, J. & Miranda, E., 6 oct 2021, En: Electronics. 10, 19, 2427.
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2 Citas (Scopus)

3 Descargas (Pure)
Experimental study of the series resistance effect and its impact on the compact modeling of the conduction characteristics of HfO₂-based resistive switching memories
Maldonado, D., Aguirre, F., González-Cordero, G., Roldán, A. M., González, M. B., Jiménez-Molinos, F., Campabadal, F., Miranda, E. & Roldán, J. B., 6 ago 2021, En: Journal of applied physics. 130, 5, 12 p., 054503.
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22 Citas (Scopus)
Minimization of the Line Resistance Impact on Memdiode-Based Simulations of Multilayer Perceptron Arrays Applied to Pattern Recognition
Aguirre, F. L., Gomez, N. M., Pazos, S. M., Palumbo, F., Suñé, J. & Miranda, E., 2021, En: Journal of Low Power Electronics and Applications. 11, 1
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Acceso abierto
10 Citas (Scopus)
On the Thermal Models for Resistive Random Access Memory Circuit Simulation
Roldán, J. B., González-Cordero, G., Picos, R., Miranda, E., Palumbo, F., Jiménez-Molinos, F., Moreno Pérez, E., Maldonado, D., Baldomá, S. B., Moner Al Chawa, M., de Benito, C., Stavrinides, S. G., Suñé, J. & Chua, L. O., 2021, En: Nanomaterials. 11, 5
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Acceso abierto
41 Citas (Scopus)
SPICE modeling of cycle-to-cycle variability in RRAM devices
Salvador Aguilera, E., Bargallo Gonzalez, M., Campabadal, F., Martin Martinez, J., Rodríguez Martínez, R. & Miranda, E., 2021, En: Solid-State Electronics. 185
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Acceso abierto
10 Citas (Scopus)
2020
Analysis of the successive breakdown statistics of multilayer Al₂O₃/HfO₂ gate stacks using the time-dependent clustering model
Muñoz-Gorriz, J., Gonzalez, M. B., Campabadal, F., Suñé, J. & Miranda, E., nov 2020, En: MICROELECTRONICS RELIABILITY. 114, 5 p., 113748.
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3 Citas (Scopus)

Fabricación, caracterización, simulación, modelado y aplicaciones de dispositivos de conmutación resistiva

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