Disseny i realització d'un sistema de mesura del camp evanescent PSTM per a una anàlisi de components òptics integrats.

Con este proyecto se pretende desarrollar un sistema para análisis de los campos electromagnéticos locales en componentes ópticos pasivos, integrados en silicio, en base a la microscopía por túnel de fotones (PSTM). En primer lugar se realizarán el diseño y construcción del PSTM junto a la fabricación, con tecnología de silicio, de guías de ondas con estructuras ARROW. Dichas guías se caracterizarán ópticamente y se estudiará el comportamiento del campo evanescente en función de los parámetros del proceso tecnológico. El resultado de dicho análisis servirá para mejorar el diseño y obtención de los componentes pasivos que se realizarán en una segunda fase y cuya caracterización se confrontará con el análisis por PSTM.