Anàlisi del rendiment en la implantació d'una estratègia de test per MCMS amb substrat actiu.

Los MultiChip Modules (MCMs) son circuitos electrónicos especialmente indicados en la construcción de microsistemas gracias a sus dimensiones y consumo reducidos, y a su velocidad de funcionamiento. Sin embargo, su dificil comprabilidad dificulta en gran medida su aplicabilidad a microsistemas en general. En este sentido, el proyecto que se presenta estudia y aplica técnicas de diseño para la testabilidad basadas en boundary scan y test por medida de corriente (actualmente utilizadas en el test de circuitos integrados) a substratos activos de silicio en MCMs de deposición. Los objetivos impuestos para lograr una mayor comprobabilidad del MCM son: - Creación de una biblioteca básica de estructuras de test para la testabilidad en MCMs. - Realización de un módulo multicircuito demostrador, basado en un microsistema. Con la construcción del demostradora se validará el uso del substrato activ