Proyectos por año
Perfil personal
Educación/cualificación académica
Doctor/a, Doctorat, Universitat Autònoma de Barcelona (UAB)
Fecha de beca: 1 ene 2000
Licenciado/a, Ingeniería de Telecomunicación, Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Fecha de beca: 6 jul 1995
Huella digital
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Colaboraciones y áreas de investigación principales de los últimos cinco años
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Non-volAtile memRisTive swItches For hIgh frequenCy opEration
Verdu Tirado, J. A. (Principal Investigator), Bargallo Gonzalez, M. (Investigador/a), Campabadal Segura, F. (Investigador/a), Crespo Yepes, A. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Nafria Maqueda, M. (Investigador/a), Paco Sanchez, P. A. D. (Investigador/a), Rodriguez Martinez, R. (Investigador/a), Amarilla Rions, O. T. (Otros) & Guerrero Menéndez, E. (Otros)
2/12/24 → 1/06/25
Proyecto: Proyectos y Ayudas de Investigación
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FIABILIDAD, SEGURIDAD Y EFICIENCIA ENERGETICA EN DISPOSITIVOS Y CIRCUITOS ELECTRONICOS PARA IOT EDGE (TIRELESS-UAB)
Nafria Maqueda, M. (Principal Investigator), Porti Pujal, M. (Investigador/a Principal 2), Crespo Yepes, A. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Rodriguez Martinez, R. (Investigador/a), Valdivieso Leon, C. A. (Colaborador/a), Salvador Aguilera, E. (Colaborador/a) & Goyal Goyal, R. (Colaborador/a)
1/09/23 → 31/08/27
Proyecto: Proyectos y Ayudas de Investigación
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THE VARIABILITY CHALLENGE IN NANO-CMOS AND BEYOND-CMOS: HARNESSING DEVICES AND MATERIALS FOR MITIGATION AND EXPLOITATION (VIGILANT-UAB)
Rodriguez Martinez, R. (Principal Investigator), Nafria Maqueda, M. (Investigador/a Principal 2), Diaz Fortuny, J. (Colaborador/a), Pedreira Rincon, G. (Colaborador/a), Pedro Puig, M. (Colaborador/a), Ruiz Flores, A. (Colaborador/a), Salvador Aguilera, E. (Colaborador/a), Aymerich Humet, F. J. (Investigador/a), Crespo Yepes, A. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Porti Pujal, M. (Investigador/a), Valdivieso Leon, C. A. (Colaborador/a) & Claramunt Ruiz, S. (Colaborador/a)
1/06/20 → 29/02/24
Proyecto: Proyectos y Ayudas de Investigación
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Beneficio del ruido en la respuesta de menrístores para el desarrollo de sistemas de computación alternativas y avanzadas.
Rodriguez Martinez, R. (Principal Investigator), Crespo Yepes, A. (Colaborador/a), Pedro Puig, M. (Colaborador/a), Salvador Aguilera, E. (Colaborador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Nafria Maqueda, M. (Investigador/a) & Rubio Solá, A. (Investigador/a)
Ministerio de Economía y Competitividad (MINECO)
1/11/18 → 30/09/21
Proyecto: Proyectos y Ayudas de Investigación
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Dispositivos, circuitos y arquitecturas fiables y de bajo consumo para iot
Nafria Maqueda, M. (Principal Investigator), Porti Pujal, M. (Investigador/a Principal 2), Diaz Fortuny, J. (Colaborador/a), Pedro Puig, M. (Colaborador/a), Ruiz Flores, A. (Colaborador/a), Aymerich Humet, F. J. (Investigador/a), Crespo Yepes, A. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Rodriguez Martinez, R. (Investigador/a) & Pedreira Rincon, G. (Colaborador/a)
Ministerio de Economía y Competitividad (MINECO)
30/12/16 → 29/06/21
Proyecto: Proyectos y Ayudas de Investigación
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Stochastic Resonance in HfO2-Based Memristors : Impact of External Noise on the Binary STDP Protocol
Salvador Aguilera, E., Rodríguez Martínez, R., Miranda, E., Martin Martinez, J., Rubio, A., Ntinas, V., Sirakoulis, G. C., Crespo Yepes, A. & Nafría i Maqueda, M., sept 2024, En: IEEE transactions on electron devices. 71, 9, p. 5761-5766 6 p.Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › Investigación › revisión exhaustiva
Acceso abierto -
Challenges and solutions to the defect-centric modeling and circuit simulation of time-dependent variability
Martin-Martinez, J., Diaz-Fortuny, J., Saraza-Canflanca, P., Rodriguez, R., Castro-Lopez, R., Roca, E., Fernandez, F. V. & Nafria, M., 2023, Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc. 9 p. (IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings; vol. 2023-March)Producción científica: Informe/libro › Libro de Actas › Investigación › revisión exhaustiva
Acceso abierto2 Citas (Scopus)1 Descargas (Pure) -
Impact of OFF-State, HCI and BTI degradation in FDSOI Ω-gate NW-FETs
Valdivieso, C., Crespo-Yepes, A., Miranda, R., Bernal, D., Martin-Martinez, J., Rodriguez, R. & Nafria, M., may 2023, En: SOLID-STATE ELECTRONICS. 203, 5 p., 108625.Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › Investigación › revisión exhaustiva
Acceso abierto1 Descargas (Pure) -
Random Telegraph Noise and Bias Temperature Instabilities statistical characterization of Ω-gate FDSOI devices at low voltages
Pedreira, G., Martin-Martinez, J., Crespo-Yepes, A., Amat, E., Rodriguez, R. & Nafria, M., nov 2023, En: SOLID-STATE ELECTRONICS. 209, 4 p., 108735.Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › Investigación › revisión exhaustiva
Acceso abierto1 Descargas (Pure) -
Resistive switching like-behavior in FD-SOI Ω-gate transistors
Valdivieso, C., Rodriguez, R., Crespo-Yepes, A., Martin-Martinez, J. & Nafria, M., nov 2023, En: SOLID-STATE ELECTRONICS. 209, 3 p., 108759.Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › Investigación › revisión exhaustiva
Acceso abierto1 Cita (Scopus)1 Descargas (Pure)
Tesis
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Distribuciones de la carga atrapada en el óxido de puerta de dispositivos MOS en condiciones de estrés estático y dinámico
Rodríguez Martínez, R. (Autor/a), Nafría Maqueda, M. (Director/a), 17 jul 1997Tesis doctoral: Tesina (TFM)