Resultados de la búsqueda

• Caracterització a escala nanomètrica de la degradació i ruptura dielèctrica del SiO2 en dispositius MOS mitjançant C-AFM

  Porti Pujal, M. (Autor/a), Aymerich Humet, X. (Director/a) & Nafría Maqueda, M. (Director/a), 4 abr 2003

  Tesis doctoral