Proyectos por año
Perfil personal
Educación/cualificación académica
Doctor/a, Doctorat, Universitat Autònoma de Barcelona (UAB)
Fecha de beca: 8 abr 2003
Licenciado/a, Llicenciat, Universitat Autònoma de Barcelona (UAB)
Fecha de beca: 15 jun 1997
Huella digital
Profundizar en los temas de investigación en los que Marc Porti Pujal está activo. Estas etiquetas de temas provienen de las obras de esta persona. Juntos, forma una huella digital única.
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Colaboraciones y áreas de investigación principales de los últimos cinco años
Colaboración externa reciente a nivel de país/territorio. Para consultar los detalles, haga clic en los puntos o
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FIABILIDAD, SEGURIDAD Y EFICIENCIA ENERGETICA EN DISPOSITIVOS Y CIRCUITOS ELECTRONICOS PARA IOT EDGE (TIRELESS-UAB)
Nafria Maqueda, M. (Investigador/a principal), Porti Pujal, M. (Co-Investigador/a Principal), Crespo Yepes, A. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Rodriguez Martinez, R. (Investigador/a), Valdivieso Leon, C. A. (Colaborador/a), Salvador Aguilera, E. (Colaborador/a), Goyal Goyal, R. (Colaborador/a) & Baghban Bousari, N. (Colaborador/a)
Fondo Europeo de Desarrollo Regional (FEDER)
1/09/23 → 31/08/27
Proyecto: Proyectos y Ayudas de Investigación
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THE VARIABILITY CHALLENGE IN NANO-CMOS AND BEYOND-CMOS: HARNESSING DEVICES AND MATERIALS FOR MITIGATION AND EXPLOITATION (VIGILANT-UAB)
Rodriguez Martinez, R. (Investigador/a principal), Nafria Maqueda, M. (Co-Investigador/a Principal), Diaz Fortuny, J. (Colaborador/a), Pedreira Rincon, G. (Colaborador/a), Pedro Puig, M. (Colaborador/a), Ruiz Flores, A. (Colaborador/a), Salvador Aguilera, E. (Colaborador/a), Aymerich Humet, F. J. (Investigador/a), Crespo Yepes, A. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Porti Pujal, M. (Investigador/a), Valdivieso Leon, C. A. (Colaborador/a) & Claramunt Ruiz, S. (Colaborador/a)
1/06/20 → 29/02/24
Proyecto: Proyectos y Ayudas de Investigación
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Dispositivos, circuitos y arquitecturas fiables y de bajo consumo para iot
Nafria Maqueda, M. (Investigador/a principal), Porti Pujal, M. (Co-Investigador/a Principal), Diaz Fortuny, J. (Colaborador/a), Pedro Puig, M. (Colaborador/a), Ruiz Flores, A. (Colaborador/a), Aymerich Humet, F. J. (Investigador/a), Crespo Yepes, A. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Rodriguez Martinez, R. (Investigador/a) & Pedreira Rincon, G. (Colaborador/a)
Ministerio de Economía y Competitividad (MINECO), Fondo Europeo de Desarrollo Regional (FEDER)
30/12/16 → 29/06/21
Proyecto: Proyectos y Ayudas de Investigación
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Red Temática en Varibilidad en Nanoelectrónica
Nafria Maqueda, M. (Investigador/a principal), Couso Fontanillo, C. (Colaborador/a), Diaz Fortuny, J. (Colaborador/a), Rodríguez Fernández, A. (Colaborador/a), Martin Martinez, J. (Colaborador/a), Claramunt Ruiz, S. (Colaborador/a), Pedro Puig, M. (Colaborador/a), Porti Pujal, M. (Colaborador/a) & Rodriguez Martinez, R. (Colaborador/a)
Ministerio de Economía y Competitividad (MINECO)
1/12/14 → 30/11/17
Proyecto: Proyectos y Ayudas de Investigación
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Aproximación multinivel al diseño orientado a la fiabilidad de circuitos integrados analógicos y digitales
Nafria Maqueda, M. (Investigador/a principal), Rodriguez Martinez, R. (Co-Investigador/a Principal), Crespo Yepes, A. (Colaborador/a), Aymerich Humet, F. J. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Porti Pujal, M. (Investigador/a), Velayudhan , V. (Colaborador/a), Moras Albero, M. (Colaborador/a), Maestro Izquierdo, M. (Colaborador/a), Claramunt Ruiz, S. (Colaborador/a), Couso Fontanillo, C. (Colaborador/a), Diaz Fortuny, J. (Colaborador/a), Qian Wu, Q. (Colaborador/a), Pedro Puig, M. (Colaborador/a), Ruiz Flores, A. (Colaborador/a) & Pedreira Rincon, G. (Colaborador/a)
1/01/14 → 31/12/18
Proyecto: Proyectos y Ayudas de Investigación
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A statistical characterization of dielectric breakdown in FDSOI nanowire transistors
Goyal, R., Crespo-Yepes, A., Porti, M., Rodriguez, R. & Nafria, M., 11 ene 2026, En: Microelectronic Engineering. 302, 8 p., 112422.Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › Investigación › revisión exhaustiva
Acceso abierto3 Descargas (Pure) -
Comprehensive statistical analysis of random telegraph noise: Impact of gate voltage, temperature, and Bias time
Martin-Martinez, J., Baghban-Bousari, N., Castro-Lopez, R., Eric, D., Roca, E., Rodriguez, R., Porti, M., Fernandez, F. V. & Nafria, M., 1 mar 2026, En: Microelectronic Engineering. 303, 6 p., 112437.Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › Investigación › revisión exhaustiva
Acceso abierto2 Descargas (Pure) -
Feasibility of Physical Unclonable Functions from Pre-stressed Organic Thin Film Transistors for Secure Microelectronics
Baghban-Bousari, N., Eric, D., Palau, G., Crespo-Yepes, A., Porti, M., Ramon, E., Ogier, S. & Nafria, M., 11 ene 2026, En: Microelectronic Engineering. 302, 5 p., 112407.Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › Investigación › revisión exhaustiva
Acceso abierto1 Descargas (Pure) -
On the role of power dissipation in the Post-BD behavior of FDSOI NanoWire FETs
Goyal, R., Crespo Yepes, A., Porti i Pujal, M., Rodríguez Martínez, R. & Nafría i Maqueda, M., dic 2025, En: Solid-State Electronics. 230, 4 p., 109228.Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › Investigación › revisión exhaustiva
Acceso abierto1 Descargas (Pure) -
Physical Unclonable Functions based on the post-breakdown current of FDSOI Nanowire Transistors
Goyal, R., Porti i Pujal, M., Crespo Yepes, A. & Nafría i Maqueda, M., 9 jun 2025, En: IEEE electron device letters. 46, 8, p. 1273-1276 4 p.Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › Investigación › revisión exhaustiva
Acceso abierto2 Descargas (Pure)
Tesis
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Caracterització a escala nanomètrica de la degradació i ruptura dielèctrica del SiO2 en dispositius MOS mitjançant C-AFM
Porti Pujal, M. (Autor/a), Aymerich Humet, X. (Director/a) & Nafría Maqueda, M. (Director/a), 4 abr 2003Tesis doctoral
Conjuntos de datos
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Replication Data for: Reliability Assessment of Optical Physical Unclonable Functions based on the Spatial Distribution of Catastrophic Failure Sites in MIM Structures
Porti Pujal, M. (Colaborador), Solis, A. (Colaborador), Calatayud, A. (Colaborador), Nafria, M. (Colaborador) & Miranda, E. (Colaborador), CORA.Repositori de Dades de Recerca, 20 nov 2025
DOI: 10.34810/data2758
Dataset: Conjunto de datos
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Replication Data for: Oxide Breakdown Spot Spatial Patterns as Fingerprints for Optical Physical Unclonable Functions
Porti Pujal, M. (Colaborador), Redon Bosch, M. (Colaborador), Muñoz Gorriz, J. (Colaborador), Nafria, M. (Colaborador) & Miranda, E. (Colaborador), CORA.Repositori de Dades de Recerca, 20 nov 2025
DOI: 10.34810/data2757
Dataset: Conjunto de datos
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Replication Data for: Physical Unclonable Functions based on the post-breakdown current of FDSOI Nanowire Transistors
Porti Pujal, M. (Colaborador), Goyal, R. (Colaborador), Crespo-Yepes, A. (Colaborador) & Nafria, M. (Colaborador), CORA.Repositori de Dades de Recerca, 10 nov 2025
DOI: 10.34810/data2740
Dataset: Conjunto de datos