Perfil personal
Huella digital
- 1 Perfiles similares
Colaboraciones y áreas de investigación principales de los últimos cinco años
-
FIABILIDAD, SEGURIDAD Y EFICIENCIA ENERGETICA EN DISPOSITIVOS Y CIRCUITOS ELECTRONICOS PARA IOT EDGE (TIRELESS-UAB)
Nafria Maqueda, M. (Investigador/a principal), Porti Pujal, M. (Co-Investigador/a Principal), Crespo Yepes, A. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Rodriguez Martinez, R. (Investigador/a), Valdivieso Leon, C. A. (Colaborador/a), Salvador Aguilera, E. (Colaborador/a), Goyal Goyal, R. (Colaborador/a), Baghban Bousari, N. (Colaborador/a) & Diaz Fortuny, J. (Colaborador/a)
Fondo Europeo de Desarrollo Regional (FEDER)
1/09/23 → 31/08/27
Proyecto: Proyectos y Ayudas de Investigación
-
Non-volAtile memRisTive swItches For hIgh frequenCy opEration
Verdu Tirado, J. A. (Investigador/a principal), Bargallo Gonzalez, M. (Investigador/a), Campabadal Segura, F. (Investigador/a), Crespo Yepes, A. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Nafria Maqueda, M. (Investigador/a), Paco Sanchez, P. A. D. (Investigador/a), Rodriguez Martinez, R. (Investigador/a), Amarilla Rions, O. T. (Otros) & Guerrero Menéndez, E. (Otros)
2/12/24 → 1/06/25
Proyecto: Proyectos y Ayudas de Investigación
-
THE VARIABILITY CHALLENGE IN NANO-CMOS AND BEYOND-CMOS: HARNESSING DEVICES AND MATERIALS FOR MITIGATION AND EXPLOITATION (VIGILANT-UAB)
Rodriguez Martinez, R. (Investigador/a principal), Nafria Maqueda, M. (Co-Investigador/a Principal), Diaz Fortuny, J. (Colaborador/a), Pedreira Rincon, G. (Colaborador/a), Pedro Puig, M. (Colaborador/a), Ruiz Flores, A. (Colaborador/a), Salvador Aguilera, E. (Colaborador/a), Aymerich Humet, F. J. (Investigador/a), Crespo Yepes, A. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Porti Pujal, M. (Investigador/a), Valdivieso Leon, C. A. (Colaborador/a) & Claramunt Ruiz, S. (Colaborador/a)
1/06/20 → 29/02/24
Proyecto: Proyectos y Ayudas de Investigación
-
Beneficio del ruido en la respuesta de menrístores para el desarrollo de sistemas de computación alternativas y avanzadas.
Rodriguez Martinez, R. (Investigador/a principal), Crespo Yepes, A. (Colaborador/a), Pedro Puig, M. (Colaborador/a), Salvador Aguilera, E. (Colaborador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Nafria Maqueda, M. (Investigador/a) & Rubio Solá, A. (Investigador/a)
Ministerio de Economía y Competitividad (MINECO)
1/11/18 → 30/09/21
Proyecto: Proyectos y Ayudas de Investigación
-
Obleas para automoción y otras aplicaciones clave utilizando memorias integradas en microprocesadores ULSI
Suñe Tarruella, J. F. (Investigador/a principal), Boquet Pujadas, G. (Investigador/a), Lopez Vicario, J. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Miranda Castellano, E. A. (Investigador/a), Morell Perez, A. (Investigador/a), Muñoz Gorriz, J. (Investigador/a) & Pedro Puig, M. (Investigador/a)
Comisión Europea (CE), Ministerio de Ciencia e Innovación (MICINN)
1/05/18 → 31/08/21
Proyecto: Proyecto Internacional de Investigación
-
Comprehensive statistical analysis of random telegraph noise: Impact of gate voltage, temperature, and Bias time
Martin-Martinez, J., Baghban-Bousari, N., Castro-Lopez, R., Eric, D., Roca, E., Rodriguez, R., Porti, M., Fernandez, F. V. & Nafria, M., 1 mar 2026, En: Microelectronic Engineering. 303, 6 p., 112437.Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › Investigación › revisión exhaustiva
Acceso abierto2 Descargas (Pure) -
Resistive Switching phenomenon in FD-SOI Ω-Gate FETs: Transistor performance recovery and back gate bias influence
Valdivieso, C., Rodriguez, R., Crespo-Yepes, A., Martin-Martinez, J. & Nafria, M., abr 2025, En: SOLID-STATE ELECTRONICS. 225, 4 p., 109067.Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › Investigación › revisión exhaustiva
Acceso abierto2 Descargas (Pure) -
A New Framework for Evaluating Image Quality Including Deep Learning Task Performances as a Proxy
Galles, P., Takats, K., Hernandez-Cabronero, M., Berga, D., Pega, L., Riordan-Chen, L., Garcia, C., Becker, G., Garriga, A., Bukva, A., Serra-Sagrista, J., Vilaseca, D. & Marin, J., 2024, En: IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing. 17, p. 3285-3296 12 p.Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › Investigación › revisión exhaustiva
Acceso abierto1 El enlace se abre en una pestaña nueva Cita (Scopus) -
Noise-Induced Homeostasis in Memristor-Based Neuromorphic Systems
Salvador, E., Rodriguez, R., Miranda, E., Martin-Martinez, J., Rubio, A., Crespo-Yepes, A., Ntinas, V., Sirakoulis, G. C. & Nafria, M., ago 2024, En: IEEE Electron Device Letters. 45, 8, p. 1524-1527 4 p.Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › Investigación › revisión exhaustiva
Acceso abierto5 El enlace se abre en una pestaña nueva Citas (Scopus)1 Descargas (Pure) -
Stochastic Resonance in HfO2-Based Memristors: Impact of External Noise on the Binary STDP Protocol
Salvador Aguilera, E., Rodríguez Martínez, R., Miranda, E., Martin Martinez, J., Rubio, A., Ntinas, V., Sirakoulis, G. C., Crespo Yepes, A. & Nafría i Maqueda, M., 9 ago 2024, En: IEEE transactions on electron devices. 71, 9, p. 5761-5766 6 p.Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › Investigación › revisión exhaustiva
Acceso abierto4 El enlace se abre en una pestaña nueva Citas (Scopus)1 Descargas (Pure)
Tesis
-
Modelado de los efectos de la ruptura dieléctrica, BTI y variabilidad en MOSFETs Ultraescalados para la simulaciójn de circuitos. (Mención Europea)
Martín Martínez, J. (Autor/a), Nafría Maqueda, M. (Director/a), 21 jul 2009Tesis doctoral