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Mecanismos de conducción a través del aislante de puerta en estructuras MOS (Metal-Oxido-Semiconductor)
Miranda Castellano, E. A. (Autor/a), Faigon, A. N. (Director/a), 23 ago 2002Tesis doctoral
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Soft and hard breakdown in ultrathin SiO2 films
Miranda Castellano, E. A. (Autor/a), Suñé Tarruella, J. (Director/a), 22 jun 1999Tesis doctoral