| Date of Award | 4 Apr 2003 |
|---|---|
| Original language | Undefined/Unknown |
| Supervisor | Xavier Aymerich Humet (Director) & Montserrat Nafria Maqueda (Director) |
Caracterització a escala nanomètrica de la degradació i ruptura dielèctrica del SiO2 en dispositius MOS mitjançant C-AFM
Student thesis: Doctoral thesis