Análisis de la degradación y ruptura dieléctrica de capas finas de SiO2 en dispositivos MOS sometidos a estreses estáticos y dinámicos. (Premio extraordinario de doctorado)

    Student thesis: Doctoral thesis

    Date of Award13 Jul 2000
    Original languageUndefined/Unknown
    SupervisorMontserrat Nafria Maqueda (Director)

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