Libro de Actas del Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante SNOM".: Libro de Actas del Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines.

X. Borrisé; N. Barniol; F. Pérez-Murano; D. Jiménez; X. Aymerich; F. Pérez-Murano; G. Abadal

Libro de Actas del Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante SNOM". Libro de Actas del Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines.

X. Borrisé, N. Barniol, F. Pérez-Murano, D. Jiménez, X. Aymerich, F. Pérez-Murano (Editor), G. Abadal (Editor)

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Original language	Undefined/Unknown
Place of Publication	Barcelona (ES)
Number of pages	4
Publication status	Published - Jun 1998

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Borrisé, X., Barniol, N., Pérez-Murano, F., Jiménez, D., Aymerich, X., Pérez-Murano, F. (Ed.), & Abadal, G. (Ed.) (1998). Libro de Actas del Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante SNOM". Libro de Actas del Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines.

Borrisé, X. ; Barniol, N. ; Pérez-Murano, F. et al. / Libro de Actas del Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante SNOM". Libro de Actas del Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. Barcelona (ES), 1998. 4 p.

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Borrisé, X, Barniol, N, Pérez-Murano, F, Jiménez, D, Aymerich, X, Pérez-Murano, F (ed.) & Abadal, G (ed.) 1998, Libro de Actas del Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante SNOM". Libro de Actas del Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. Barcelona (ES).

Libro de Actas del Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante SNOM". Libro de Actas del Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. / Borrisé, X.; Barniol, N.; Pérez-Murano, F. et al.

Barcelona (ES), 1998. 4 p.

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T1 - Libro de Actas del Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante SNOM".

T2 - Libro de Actas del Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines.

AU - Borrisé, X.

AU - Barniol, N.

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A2 - Pérez-Murano, F.

A2 - Abadal, G.

PY - 1998/6

Y1 - 1998/6

M3 - Libro de Actas

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CY - Barcelona (ES)

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Borrisé X, Barniol N, Pérez-Murano F, Jiménez D, Aymerich X, Pérez-Murano F, (ed.) et al. Libro de Actas del Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante SNOM". Libro de Actas del Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. Barcelona (ES), 1998. 4 p.