Original language | Undefined/Unknown |
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Place of Publication | Barcelona (ES) |
Number of pages | 4 |
Publication status | Published - Jun 1998 |
Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante SNOM". Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines.
X. Borrisé, N. Barniol, F. Pérez-Murano, D Jiménez, X. Ayerich, F. Pérez-Murano (Editor), G. Abadal (Editor)
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