Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante SNOM". Congreso Español de Microscopia de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines.

X. Borrisé, N. Barniol, F. Pérez-Murano, D Jiménez, X. Ayerich, F. Pérez-Murano (Editor), G. Abadal (Editor)

    Research output: Book/ReportProceedingResearch

    Original languageUndefined/Unknown
    Place of PublicationBarcelona (ES)
    Number of pages4
    Publication statusPublished - Jun 1998

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