Congreso español de microscopia de efecto túnel, de fuerzas atómicas y técnicas afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante microscopia óptica de campo cercano (SNOM)".: Congreso español de microscopia de efecto túnel, de fuerzas atómicas y técnicas afines.

X. Borrisé; J. Jiménez; N. Barniol; F. Pérez-Murano; X Aymerich; null -

Congreso español de microscopia de efecto túnel, de fuerzas atómicas y técnicas afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante microscopia óptica de campo cercano (SNOM)". Congreso español de microscopia de efecto túnel, de fuerzas atómicas y técnicas afines.

X. Borrisé, J. Jiménez, N. Barniol, F. Pérez-Murano, X Aymerich, - (Editor)

Research output: Book/Report › Proceeding › Research

Original language	Undefined/Unknown
Place of Publication	Barcelona (ES)
Number of pages	1
Publication status	Published - Jun 1998

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Borrisé, X., Jiménez, J., Barniol, N., Pérez-Murano, F., Aymerich, X., & - (Ed.) (1998). Congreso español de microscopia de efecto túnel, de fuerzas atómicas y técnicas afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante microscopia óptica de campo cercano (SNOM)". Congreso español de microscopia de efecto túnel, de fuerzas atómicas y técnicas afines.

Borrisé, X. ; Jiménez, J. ; Barniol, N. ; Pérez-Murano, F. ; Aymerich, X ; - (Editor). / Congreso español de microscopia de efecto túnel, de fuerzas atómicas y técnicas afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante microscopia óptica de campo cercano (SNOM)". Congreso español de microscopia de efecto túnel, de fuerzas atómicas y técnicas afines. Barcelona (ES), 1998. 1 p.

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Borrisé, X, Jiménez, J, Barniol, N, Pérez-Murano, F, Aymerich, X & - (ed.) 1998, Congreso español de microscopia de efecto túnel, de fuerzas atómicas y técnicas afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante microscopia óptica de campo cercano (SNOM)". Congreso español de microscopia de efecto túnel, de fuerzas atómicas y técnicas afines. Barcelona (ES).

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Barcelona (ES), 1998. 1 p.

Research output: Book/Report › Proceeding › Research

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T1 - Congreso español de microscopia de efecto túnel, de fuerzas atómicas y técnicas afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante microscopia óptica de campo cercano (SNOM)".

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PY - 1998/6

Y1 - 1998/6

M3 - Libro de Actas

BT - Congreso español de microscopia de efecto túnel, de fuerzas atómicas y técnicas afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante microscopia óptica de campo cercano (SNOM)".

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Borrisé X, Jiménez J, Barniol N, Pérez-Murano F, Aymerich X, -, (ed.). Congreso español de microscopia de efecto túnel, de fuerzas atómicas y técnicas afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante microscopia óptica de campo cercano (SNOM)". Congreso español de microscopia de efecto túnel, de fuerzas atómicas y técnicas afines. Barcelona (ES), 1998. 1 p.