Original language | Undefined/Unknown |
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Place of Publication | Barcelona (ES) |
Number of pages | 1 |
Publication status | Published - Jun 1998 |
Congreso español de microscopia de efecto túnel, de fuerzas atómicas y técnicas afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante microscopia óptica de campo cercano (SNOM)". Congreso español de microscopia de efecto túnel, de fuerzas atómicas y técnicas afines.
X. Borrisé, J. Jiménez, N. Barniol, F. Pérez-Murano, X Aymerich, - (Editor)
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