Congreso español de microscopia de efecto túnel, de fuerzas atómicas y técnicas afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante microscopia óptica de campo cercano (SNOM)". Congreso español de microscopia de efecto túnel, de fuerzas atómicas y técnicas afines.

X. Borrisé, J. Jiménez, N. Barniol, F. Pérez-Murano, X Aymerich, - (Editor)

    Research output: Book/ReportProceedingResearch

    Original languageUndefined/Unknown
    Place of PublicationBarcelona (ES)
    Number of pages1
    Publication statusPublished - Jun 1998

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