Original language | Undefined/Unknown |
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Place of Publication | Barcelona (ES) |
Number of pages | 4 |
Publication status | Published - Jun 1998 |
Congreso Español de Microscopía de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante Microscopía óptica de campo cercano (SNOM). Congreso Español de Microscopía de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines.
X. Borrisé, D. Jiménez, N. Barniol, X. Aymerich, F. Pérez-Murano (Editor), G. Abadal (Editor)
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