Caracterización dinámica del óxido de puerta de dispositivos MOS VLSI: Actas de la conferencia de Dispositivos Electrónicos 1997 (CDE'97)

M Nafría, R Rodriguez, J Suñé, X Aymerich, R Alcubilla (Editor), J Pond (Editor)

    Research output: Book/ReportProceedingResearch

    Original languageUndefined/Unknown
    Place of Publication- (ES)
    Number of pages6
    Publication statusPublished - Jul 1997

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